产品概述
光研科技自主研发的光斑分析仪可实现激光光斑检测及测试应用。为客户提供定制光束质量分析一体化设计解决方案,并支持多应用开发。
通过光束分析装置一体化设计,配套衰减方案设计,可测直径低至40um光斑,支持实时曝光及增益调节。该系统可以对连续可见激光光斑进行采样,分析得到激光光斑中心,半径,椭圆比等,并对光强能量场进行二维和三维显示。
可广泛用于需要对激光光斑形状进行检测的场合,如激光生产,维护以及激光应用。也常用于光学器件质量检查,激光腔镜调整,外光路准直,光纤对准耦合分析等。目前已作为成熟产品在市场推广,性价比很高,获得大量客户认同。
标准产品
标准产品参数(硬件参数)
标准产品参数(软件功能)
需求定制
光斑尺寸及功率定制
可为客户定制不同需求的光斑分析仪,不同的激光束直径,激光功率等。
基础款:可测试直径40um-4.5mm光斑
定制款A:可测直径约6mm光斑
定制款B :可测直径约9mm光斑
基础款可测低功率的毫瓦级激光,我们也可定制大功率激光测试需求,通过客户的激光功率,提供适合的衰减方案,大功率可至400W。
二次开发
软件支持二次开发,可根据客户的定制需求,提供底层通讯协议,扩展客户所需要的功能,实现深度定制。
我司针对CO2激光器和光通信激光器用的光斑分析仪也正在加紧研发中。(面世在即,敬请期待……)