PHOTON RT 7512 LWIR

平视光学元件在正常和可变入射角下的 LWIR 透射和反射测量。

产品介绍

主要优势

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准确可靠的光学镀膜红外光谱测量是当今最严峻的挑战之一。世界各地的光学制造商为其平面光学元件指定了越来越复杂的红外镀膜，专注于更好地检测和识别远距离物体。通常，获得光学镀膜的生产能力远远领先于现有的质量认证计量能力。

PHOTON RT 7512 分光光度计是一款专为有效应对这些挑战而设计的独特仪器。该仪器可以测量为 LWIR 设计的涂层的透射和反射。PHOTON RT 7512 的一个无与伦比的功能是能够在偏振光下以高达 60 度的可变入射角进行自动测量。内置功能支持这些重要的测试，该功能可准确补偿高角度下的光束位移，并确保在短短几分钟内获得 S-pol 和 P-pol 结果。样品的最大厚度可达创纪录的 40 毫米。

PHOTON RT 7512.png

主要优势：

色散分光光度计

在正常和可变 AOI 下进行高精度测量

内置高对比度滤镜

极低的噪音测量

全自动运行

有效的信噪比管理

RT7512分光光度计
参数	描述
型号	RT 7512
光学配置
测量模式	透射，反射
波长范围，μm	7.5—12.5
偏振器工作波段，μm	7.5—12.5
单色仪光学方案	Czerny-Turner 光栅系统
光学元件	镜片：Au，透镜：ZnSe+AR
透射测试	可变角度测量：
透射测试	0°-60°入射角测量
反射测试	具有固定入射角的可更换的样品台：
	10°，30°，45°，60°
	参考样品：金镜
样品台旋转步进间距	0.01°
光束位移补偿，mm	40
内置偏振器和无人值守偏振测量	S, P, (S+P)/2
波长采样间距，nm	0.5-100
光斑尺寸，mm	6.0×3.0
最终光谱分辨率，nm	8（非偏振光）
波长精度，nm	3.6
波长重复精度，nm	±0.9
测试精度	±0.2%（47%T，λ0=10.6μm，AOI=3°）
测试重复精度	±0.1%
基线稳定性，%/小时（UV-VIS）	±0.3%
光源	红外光源
光源	HgAr波长校验灯
样品仓
最大样品尺寸，mm	150×200
最大样品厚度，mm	40
平面样品台	用于测量尺寸大于12×10mm的平面样品反射和透射
同步定位	根据选择的功能模式对样品台和探测器进行同步计算机控制定位
接口，尺寸和重量
接口	USB2.0
功率	110W
电源	110-220V,AC,50-60HZ
宽度×深度×高度，mm	760×340×370
净重，kg	51

如有了解产品的需求，请咨询：徐经理，电话：13627124798，邮箱：xbp@focaloptics.com。

主要优势：

RT7512分光光度计

光学配置

样品仓

接口，尺寸和重量