-Wavelab OPTINSPEC 测量工具-光研科技

图像尺寸测量仪

OptiNspec-AMF105

产品介绍

规格参数表

AMF105系列图像尺寸测量仪采用双倍率、双远心高分辨率光学镜头和多类型机器视觉光源补光拍摄，并结合高精度图像分析算法，软件界面简洁、设计有一件闪测功能。只需按下启动键，仪器即可根据工件的形状自动定位测量对象、匹配模板、测量评价、报表生成，真正实现一键式快速精准测量。

产品特色:

1. 配备大小两个视野的工业远心镜头，同时兼顾大尺寸和高精度测量的需求；

2. 高精度XY位移平台，重复定位精度±1um，定位扫描精度高；

3. 高精度对焦模组，成像更清晰、更稳定；

4. 多种光源模式可选，可根据不同产品选择最合适的补光方案；

5. 软件界面操作简单，便于员工学习与操作；；

6. 可自动化批量检测（需定制自动上下料结构）；

7. 可生成测试报告，汇总测试数据；

8．软件含有表面缺陷检测特色功能，可检测毛刺、刀纹等不良缺陷。